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AZ91D鎂合金表面負(fù)載緩蝕劑的埃洛石納米管防腐蝕涂層的釋放速率動力學(xué)研究
鎂合金由于具備密度低、比強(qiáng)度和比剛度高、良好的導(dǎo)電性和可加工性能等優(yōu)點(diǎn),在航空航天、汽車和電子行業(yè)中具有極大的應(yīng)用潛力。但鎂合金的反應(yīng)活性高和耐蝕性較差,阻礙了其進(jìn)一步廣泛應(yīng)用。溶膠-凝膠涂層是一種環(huán)境友好材料,具備固化溫度低、成本效益高、與基體附著力良好等優(yōu)點(diǎn),對基體的腐蝕防護(hù)效果較好。但涂層表面一旦發(fā)生破損,常常會加速基體腐蝕。通過將緩蝕劑負(fù)載進(jìn)微/納米容器,實(shí)現(xiàn)微/納米容器與涂層的復(fù)合,可有效提高基體的腐蝕抗力。但如何實(shí)現(xiàn)緩蝕劑的可控釋放,是目前緩蝕劑提高鎂合金長期防腐蝕性能的重要研究方向之一。
近日,來自印度粉末冶金與新材料國際研究中心的R. Subasri博士等人利用埃洛石納米管(HNTs)和刻蝕后的埃洛石納米管(EHNTs)作為納米容器,分別負(fù)載了Ce3+-Zr4+、2-巰基苯并噻唑(MBT)和8-羥基喹啉(HQ)等緩蝕劑,對比研究了HNTs和EHNTs中不同緩蝕劑分子的負(fù)載釋放動力學(xué)。研究結(jié)果表明,在3.5 wt.% NaCl水溶液中浸泡120小時(shí)后,Ce3+-Zr4+-HNTs涂層的電化學(xué)阻抗Rct值為4.464×107 Ω·cm2,自腐蝕電流密度最低,為2.667×10-9 A/cm2,表現(xiàn)出最好的腐蝕防護(hù)能力;通過對HNTs和EHNTs釋放的緩蝕劑進(jìn)行定量分析,發(fā)現(xiàn)Korsmeyer-Peppas模型最符合緩蝕劑的釋放動力學(xué)過程。
系統(tǒng)研究了負(fù)載緩蝕劑對HNTs和EHNTs形態(tài)結(jié)構(gòu)的影響。從圖1可以看出,埃洛石納米管在刻蝕前后均為管狀結(jié)構(gòu),其中HNTs的管腔直徑約為10-15 nm,而刻蝕后,EHNTs的管腔直徑增大至35-45 nm,負(fù)載緩蝕劑能力提高。EDS能譜、比表面積和孔體積測試結(jié)果表明,負(fù)載緩蝕劑后,EHNTs中檢測到Zr4+,HNTs和EHNTs的比表面積和孔體積減少,證實(shí)緩蝕劑成功負(fù)載到埃洛石納米管管腔中(圖2)。SEM圖像表明AZ91D鎂合金表面制備的溶膠-凝膠復(fù)合涂層約3~5 μm厚。
圖1 TEM圖像:(a)HNTs,(b)抑制劑負(fù)載的HNTs,(c)EHNTs和(d)抑制劑負(fù)載的EHNTs
圖2 HNTs和EHNTs的比表面積和孔體積分析
系統(tǒng)研究了負(fù)載緩蝕劑的溶膠-凝膠復(fù)合涂層對AZ91D鎂合金電化學(xué)性能的影響。在3.5 wt.% NaCl溶液中浸泡120小時(shí)后,AZ91D鎂合金基體和負(fù)載不同緩蝕劑的HNTs及EHNTs基溶膠-凝膠涂層的電化學(xué)測試結(jié)果如圖3所示。電化學(xué)阻抗譜表明,浸泡120小時(shí)后的AZ91D基體比未浸泡前耐腐蝕性更好,這可能是由于表面形成了更為穩(wěn)定的鈍化膜;負(fù)載8-羥基喹啉后,HQ-EHNTs基溶膠-凝膠涂層比HQ-HNTs基溶膠-凝膠涂層顯示出更高的耐腐蝕性和更低的電容,這可能是由于EHNTs中容納了更多的HQ緩蝕劑;負(fù)載Ce3+-Zr4+后,Ce3+-Zr4+-HNTs涂層顯示出最佳的耐腐蝕性和最低的電容,電阻Rct較大,為4.464×107 Ω·cm2,這可能是由于浸泡后在材料表面形成了穩(wěn)定的氧化鈰鈍化膜;負(fù)載2-巰基苯并噻唑后,MBT-HNTs涂層的腐蝕電位和自腐蝕電流密度與基體相近,耐蝕性較差。動電位極化曲線結(jié)果與EIS一致,浸泡120小時(shí)后,與其他涂層試樣相比,Ce3+-Zr4+-HNTs涂層的自腐蝕電流密度最低,為2.667×10-9 A/cm2,對基體的腐蝕保護(hù)效果最好。
圖3 AZ91D鎂合金基體和負(fù)載不同緩蝕劑的HNTs及EHNTs基溶膠涂層的電化學(xué)測試曲線
本文還探索了HNTs和EHNTs中不同緩蝕劑的釋放速率。負(fù)載在HNTs和EHNTs中的Ce3+-Zr4+及HQ在不同pH值NaCl水溶液中的釋放速率曲線如圖4所示,初期緩蝕劑的釋放百分比隨時(shí)間而增加,隨后達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。無論HNTs和EHNTs負(fù)載了HQ或是Ce3+-Zr4+,EHNTs在任一pH值下的釋放百分比均更高,這可能與刻蝕后的EHNTs管腔能夠負(fù)載更多的緩蝕劑有關(guān)。研究還發(fā)現(xiàn)Ce3+-Zr4+的釋放百分比在pH為7時(shí)最高,在pH為3時(shí)最低,這可能是由于此時(shí)Ce3+-Zr4+形成了MAA絡(luò)合物,緩蝕劑釋放量減少。
圖4 負(fù)載在HNTs和EHNTs中的緩蝕劑Ce3+-Zr4+及HQ在不同pH值NaCl水溶液中的釋放速率曲線
本文最后重點(diǎn)討論了Ce3+-Zr4+緩蝕劑的釋放動力學(xué)。Ce3+-Zr4+在不同pH值下從HNTs和EHNTs釋放的速率分別根據(jù)零級模型Qt = Q0 + k0t,一級模型ln(Mt/M∞) = ?kt,Higuchi模型Qt = KHt1/2,Hixson-Crowell模型W01/3 ? ?Wt1/3 = Kst和Korsmeyer-Peppas模型Qt/Q0 = kttn進(jìn)行擬合,擬合結(jié)果如圖5和圖6所示。其中零級模型和Korsmeyer-Peppas模型的擬合結(jié)果較好,由于Korsmeyer-Peppas中擴(kuò)散釋放系數(shù)n ≈1,表明擴(kuò)散機(jī)制遵循零級時(shí)間獨(dú)立釋放,更符合實(shí)際情況,因此認(rèn)為Korsmeyer-Peppas模型更符合Ce3+-Zr4+緩蝕劑的釋放動力學(xué)。
圖5 Ce3+-Zr4+在不同pH值下從HNTs釋放的釋放速率模型:(a)零級,(b)一級,(c)Higuchi模型,(d) Korsmeyer-Peppas模型和(e)Hixson-Crowell模型
綜上所述,本研究將Ce3+-Zr4+、HQ和MBT分別負(fù)載到HNTs和刻蝕后的EHNTs中,發(fā)現(xiàn)刻蝕后的EHNTs管腔晶體結(jié)構(gòu)不受影響,緩蝕劑負(fù)載能力提高;Korsmeyer-Peppas模型最符合HNTs和EHNTs中緩蝕劑釋放過程動力學(xué);在中性和堿性的3.5 wt.%NaCl溶液中,Ce3+-Zr4+-HNTs涂層表現(xiàn)出最好的耐蝕能力,Ce3+-Zr4+可以作為HNTs基自修復(fù)涂層的最佳緩蝕劑,這為推動鎂合金表面自修復(fù)涂層研究和緩蝕劑釋放機(jī)理研究做出了重要貢獻(xiàn)。
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